• <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><input id="ljqff"></input></acronym></rp> <button id="ljqff"><acronym id="ljqff"></acronym></button>
    <rp id="ljqff"></rp>

  • <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><u id="ljqff"></u></acronym></rp>
  • <legend id="ljqff"></legend>

  • 首頁 > 產品信息

     

    晶體掃描儀—顯微掃描】
     
    設備特點:
    1. 采用高速相機配合高亮冷光源及光纖,保障圖像的清晰度;
    2. 夾具設計采用4x4矩陣掃描方案,提升檢測效率;
    3. 像素分辨率: 2.8um/1.4um/0.7um可選;
    4. 采用3PC分析處理方案,保障檢測效率及數據穩定性;
    5. 可按照芯片尺寸設定最小分析單元。
     
    系統配置:
    用途
    1、LED外延片/芯片/PSS圖形缺陷檢測
    2、支持排線及電子印刷等圖形缺陷檢測
    型號
    XTL-2K
    載物臺
    全自動掃描載物臺
    行程:158mm x 158mm/210mm x 210mm可選
    支持夾具定制
    反饋系統
    線性反饋尺, 解析率:0.1um/1.0um可選
    聚焦
    電動聚焦系統
    探測系統
    特殊深景深顯微組合設計; 高品質彩色成像系統;
    綜合放大倍率8.0x~100x; 超長工作距離>50mm
    照明方式
    專用組合環形光源及同軸光可切換照明
    軟件系統
    高性能缺陷檢測算法軟件系統,內嵌美軍標判據基準軟件;
    提供各類數據庫接口,可將測量結果上傳至工藝主控終端
    檢查性能
    高品質自動抓圖及拼圖功能; 結合自動標注存檔功能
    隔震系統
    隔振平臺,有效隔離高頻振動
    標配外觀尺寸
    長:1200mm   寬:800mm   高:1500mm
     
     
    版權所有:蘇州愛特盟光電有限公司 蘇ICP備15029769號-1    關于我們 產品信息 資質榮譽 技術反饋 資料下載 聯系我們
    无码一区
  • <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><input id="ljqff"></input></acronym></rp> <button id="ljqff"><acronym id="ljqff"></acronym></button>
    <rp id="ljqff"></rp>

  • <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><u id="ljqff"></u></acronym></rp>
  • <legend id="ljqff"></legend>