• <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><input id="ljqff"></input></acronym></rp> <button id="ljqff"><acronym id="ljqff"></acronym></button>
    <rp id="ljqff"></rp>

  • <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><u id="ljqff"></u></acronym></rp>
  • <legend id="ljqff"></legend>

  • 首页 > 产品信息

     

    W系列—键合扫描仪
    专利号:ZL201120527630.6
     
    功能描述:
    1. 采用电动连续变倍显微组合,综合放大倍率为8.0~100倍;
    2. 超深景深,适合薄膜、厚膜、深腔(LTCC)三类键合丝缺陷扫描;
    3. 采用特种组合光源实现高亮环形及同轴光可切换照明;
    4. 快速扫描拼图,扫描速度>30mm2/秒;
    5. 超长物镜工作距离>20mm;
    6. 高品质快速扫描成像系统;
    7. 自带全功能缺陷扫描及分类软件,同时支持长方形及半圆件检测。
     
    系统配置:
    用途
    键合工艺分析 - 缺线、断线、弯线、交叉丝缺陷检测
    型号
    WB-2K2
    载物台
    全自动扫描载物台
    行程:158mm x 158mm/210mm x 210mm可选
    支持夹具定制
    反馈系统
    线性反馈尺,解析率:0.1um/1.0um可选
    聚焦
    电动聚焦系统,快速锁定焦平面,保障高效精确检测
    探测系统
    特殊显微组合设计,快速扫描成像系统
    综合放大倍率8.0x~100x,超长工作距离 > 20mm
    照明系统
    专用组合环形光源及同轴光可切换照明
    软件系统
    高性能键合扫描及分析算法软件系统
    提供各类数据库接口,可将测量结果上传至工艺主控终端
    检查性能
    高品质自动抓图及拼图功能,确保无漏检
    (自动扫描误检率≤5%,结合人工廻检可确保无误检)
    扫描速度
    > 30mm2/s
    隔震系统
    隔振平台,有效隔离高频振动
    标配外观尺寸
    长:1200mm  宽:800mm  高:1500mm
     
     
     
      键合检测效果示例
     
      对于缺线、断线、弯线、金线残留
      可以确保无漏检;
      红色线条表示位置为自检过程中认
      为有缺陷的位置。
     
     
     
    键合检查原理说明
     
    图形化键合地图编程——“四要素法”:
        对于每一个产品序列的基板,在大量检测前由工程师对标准板进行编程(Bonding MAP),编程的基本要素为:
    1、器件的中心位置;  2、键合起始点及允许误差;  3、键合终点及允许误差;   4、键合路径,在检测过程中会根据键合起点及终点误差计算路径允差;
        在全板的键合编程完成后,在工艺未发生改变时可一直沿用此Bonding MAP)对未知板进行检测。
     
    版权所有:苏州爱特盟光电有限公司 苏ICP备15029769号-1    关于我们 产品信息 资质荣誉 技术反馈 资料下载 联系我们
    无码一区
  • <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><input id="ljqff"></input></acronym></rp> <button id="ljqff"><acronym id="ljqff"></acronym></button>
    <rp id="ljqff"></rp>

  • <rp id="ljqff"><acronym id="ljqff"><u id="ljqff"></u></acronym></rp>
  • <legend id="ljqff"></legend>